alpha-SE®(簡易高速分光エリプソメーター)
膜厚と屈折率のルーチン測定には、alpha-SE®が最適です。alpha-SEは「使いやすさ」を追求した分光エリプソメーターです。ステージにサンプルをセットして膜にあったモデルを選んでから測定ボタンをクリックするだけで数秒のうちに結果が得られます。
alpha-SEの特徴
簡単操作
簡単なボタン操作、高性能なソフトウェアにより慣れていない方でも安心して使用できます。
高性能
実績のある分光エリプソメトリー技術が、他の技術よりもはるかに高い精度の膜厚と光学定数を提供します。
柔軟性
誘電体・半導体・有機物などあらゆる物質を測定できます。
低コスト
高性能な分光エリプソメーターを低コストで手に入れることができます。
高速測定
数百の波長をわずか数秒で同時に収集できることにより、素早く結果が得られます。
透明膜
alpha-SEは測定スピードが速く操作性が良いため薄膜の評価に理想的です。シリコンやガラス基板上の単層誘電体膜もほんの数秒で測定できます。得られた結果は図および表形式で表されるので比較も容易です。
成膜条件が異なるSiNx膜の膜厚や光学定数の比較も素早く出来ます。
For organic layers on golf, the phase parameter (Delta) shifts downward with increasing thickness.

自己組織化単分子膜
分光エリプソメトリー測定で得られる位相に関する情報は、極薄膜(<10nm)に対して非常に高い感度を示します。例えばグラフが示すように自己組織化単分子膜も測定後すぐに結果を比較することが可能です。

金基板上の有機層では位相パラメータ(Δ)が膜厚の増加とともに下方へシフトします。
吸収膜
高度なモデルが吸収を持つ様々な物質を素早くそして効率的に解析することを可能にします。
Materials• a-Si |
Models• Lorentz |

ガラス上のコーティング
P私たちの特許技術によって金属や半導体、ガラスといったどのような基板上でも正確な測定が可能になりました。alpha-SEは透明基板の裏面から戻ってくる光の影響を補正するため、デポラリゼーション(偏光解消)も測定します。他のエリプソメーターの中にはこのような光に悩まされるものもありますが、alpha-SEでは正確な膜厚と光学定数を求めることができるのです。
alpha-SEを用いると反射率測定では得ることのできない微細構造の詳細までも知ることが可能です。ここでは酸化ジルコニウムの薄膜が測定され、屈折率が基板と膜表面の間で変化しているのがわかります。表面ラフネスと屈折率勾配を組み合わせたモデル(緑の部分)がこのサンプルを最もよく表現しています。
溶液セル |
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溶液中のサンプル測定 容量: 500μL 入射角度: 70° スライドガラスや1インチ、2インチSiウェハ―向けに設計 |
QCMセル |
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・溶液中における機械的特性の研究が可能 |
透過ステージ |
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・サンプルを光路に対して垂直に設置可能 |
手動 Translationステージ |
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12mm XY手動Translationステージでは、0.001インチの分解能を持つ目盛付きマイクロメーターを使用し、試料の微調整が可能です。 |
集光 |
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ビーム径を500ミクロン以下にまで縮小できます。 |
カメラ |
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撮影エリアは約10mm×7mmです。 |
上位機種(RC-2やM-2000シリーズ)と比較した時のalpha-SEのメリット、デメリットは?
alpha-SEはよりコンパクトかつシンプルに設計されています。上位機機種と比べると測定波長範囲が限定され一部オプションにも対応しておりません。膜厚の管理や可視光域の光学定数を求めるのには十分です。
チャンバーに取り付けてin-situで使用することは可能ですか?
alpha-SEではできません。
使用するソフトウェアはCompleteEASEとWVASEのどちらですか?
CompleteEASEです。