Home    製品紹介    新着案内    セールス\サポート    測定サービス    技術資料    会社案内     問合せ

 
製品紹介

alpha-SE

VASE

VUV-VASE

IR-VASE

M-2000

FP-M2000

MASE
 

 

 

エリプソメトリーデータの収集と解析ソフトウェア

WVASE32®
 

WVASE32® は、世界中で最も洗練され、かつ包括的な偏光解析ソフトウェアです。 豊富なモデルオプションに対して、他のどんなプログラムよりも高い評価を得ています。 WVASE32® は高速に動作します。このソフトウェアは、32ビットプログラミングであり C++で書かれています。データのフィッティングには最も高速かつ最も精度よい アルゴリズムを採用しています。さらに、WVASE32®は分光エリプソメトリーのデータと 透過強度データや反射強度データを同時に解析することでより精度の高い解析結果を得ることが可能です。 ( 中性子反射データ、有機膜のような極薄膜にも適しています )

主な仕様:
速い!! 32ビットコードで書かれています。
多くのタイプのデータの収集・解析が可能:
分光エリプソメトリーデータ、透過・反射強度データ、偏光解消率、異方性データ、 ミューラー行列、スキャッタメトリー
非常に豊富なモデルオプション
分光エリプソメトリーデータ(透過・反射)、透過・反射強度データ、偏光解消率、 異方性データ、その他のシミュレーションが可能。どんな、波長、入射角でも可能
2次元または3次元のグラフ表示、データおよびグラフをワープロソフトや 表計算ソフトなど、他のウィンドウズアプリケーションへ容易に転送が可能
WVASE32® の豊富なモデルオプションに対して、高い評価が得られています。 このソフトウェアは、あらゆる光学情報を物理的に矛盾なく記述することができます。 例えば次のようなモデルが用意されています。
  • Graded モデル( nとkが深さ方向でバラツキがある場合 )

  • 表面または 界面の粗さ

  • 膜厚の ばらつき

  • 光学的異方性 ( 1軸と2軸 )

  • 超格子構造

  • その他

 

 

J.A. Woollam Home | 製品紹介 | 新着案内 | セールス&サポート
測定サービス | 技術資料 | サイトマップ | 会社案内 | お問い合せ

 
ジェー・エー・ウーラム・ジャパン株式会社
東京都杉並区荻窪5-22-9藤ビル2F
Telephone (03) 3220-5871
FAX(03) 3220-5876
E-mail:
info@jawjapan.com
     

©2005  J. A. Woollam Co., Inc.  All Rights Reserved.