VASE (多入射角分光エリプソメーター) はすべての
波長で
入射角を精度よく設定でき、Ψと⊿を高精度で 測定することができます。
これは広い波長領域(193nm-2500nm)で可能です。
サンプルステージは水平にも垂直にも取付け可能で、 自動マッピングステージや集光オプションも利用でき ます。
VASEは研究用に最適な分光エリプソメーターと言え ます。
<主な仕様>
広い波長範囲 (193nm-2500nm)
完全に自動化された入射角制御
非接触・非破壊での物質解析
様々なタイプの材料特性を簡単に解析できます。
半導体・誘電体・重合体・金属・多層膜 など...
<以下のデータ取得が可能です>
反射および透過エリプソメトリーデータ
反射率と透過率の測定
一般化エリプソメトリー
(異方性・リターダンス・複屈折)
偏光解消率 (Auto Retarder®が必要です)
異方性の測定 (Auto Retarder®が必要です)
ミューラー行列
スキャッタメトリー
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