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研究開発用の分光エリプソメーター

VASE®
Research Spectroscopic Ellipsometer
多入射角分光エリプソメーター(VASE®)は、全ての波長で入射角を精度良く設定し、ΨとΔを高精度で測定することが出来ます。これは広い波長領域(193nm 〜 2200nm )で可能です。サンプルステージは垂直にも水平にも取付け可能で、自動マッピングステージも利用可能です。集光オプションも使えます。 VASE®は、研究用には最適な 多入射角分光エリプソメーターです。

サンプルカメラ、自動アライメント、NIR拡張、
自動サンプルステージ付のVASE®

VASE®の主な仕様

あらゆる分光エリプソメーターの中で最も精密で正確です


NIR拡張したH-VASE
分光エリプソメーター

 

 

広い波長レンジ: 193 から 2200 nm.
完全に自動化された入射角制御
非破壊の物質解析
容易にたくさんのタイプの材料の特性を解析できます :
半導体、誘電体、重合体、金属、多層膜、その他

以下のデータの取得が可能です:

VASE® Ellipsometer Options

NIR アップグレード:

波長範囲 (240 to 1100nm) をさらにNIR 1700nm まで拡張します。

拡張赤外域ディテクター (XNIR)アップグレード

波長範囲 (240 to 1100nm) をさらにNIR 2200nm まで拡張します。

DUV アップグレード:

波長範囲 (240 to 1100nm) をさらに深いUV 193nm まで拡張します。 

AutoRetarder (V-VASE® のみ)

サンプルヒートステージ

サンプルの縦置き、横置きどちらにも使える高温度ステージ。温度範囲は、室温から300度まで。

自動サンプルステージ:

150mm by 150mm XY (V-VASE のみ)

100mm by 100mm XY (H-VASE のみ)

200mm Rq (H-VASE のみ)

300mm Rq (H-VASE のみ)

350mm by 400mm XY (H-VASE のみ)

手動サンプルステージ:

45mm by 45mm XY (V-VASE のみ)

25mm by 25mm XY (H-VASE のみy)

50mm by 50mm XY (H-VASE のみ)

集光ビーム:

ビームを直径200ミクロンまで集光します。集光光学系により、波長レンジは、400nmから1100nmまでの波長範囲にかぎられますが、取り外して全波長での標準測定が可能です。

クライオスタット: (V-VASE® のみ)

サンプルの温度を変えて測定できます(4.2から700ケルビン)

   
 
 

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