複雑な試料から高度なデータを得ることができます。異方性やMueller行列の 測定は、リターダーや結晶質のTiO2、引き伸ばしたプラスチックの ような異方性試料の解析に必要とされます。偏光解消の測定では不均一な厚みや 層のパターン、コヒーレントでない裏面反射などの影響を切り離して考えます。 これらの測定はM-2000®を広範囲なアプリケーションのための優れた装置にしました。
おおきな膜厚の不均一は、偏光の一部を解消させます。 偏光解消が含まれたデータは、光学モデルで非理想性を分離することに役立ちます。
非立方晶や引き伸ばしたプラスチックは、異なる方位に異なる光学定数を 表します。非立方晶（六方晶、配向した有機高分子等）は、透過する光を二つの方向に屈折させｐ偏光 とｓ偏光を転換させます（図参照）。これはサンプルのJones行列の非対角成分が０でなくなる ことになります。M-2000®は、対角成分と非対角成分を測定することが出来ます。
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