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リソグラフィー分野のエリプソメトリー 

弊社は、リソグラフィーの薄膜解析において世界のリーダー的存在です。以下は例です。

  • レジスト

  • マスク

  • ステッパーの光学部品 ( コーティング )

  • 底面、及び、表面の反射防止膜

  • ペリクル

  • 液浸用溶液の測定

 VUV-VASETM

最も強力な研究用多入射角分光エリプソメーターです。146nmから1700nmまで正確に光学定数を測定できます。全てのリソグラフィーライン ( 157nm、193nm、248nm、... ) においてノイズに強くなっています。 


測定能力:

  • エリプソメトリーデータ ( 反射、及び、透過 )

  • 透過強度 ( 偏光、偏光なし )

  • 反射強度 ( 偏光、偏光なし )

  • 偏光解消率

  • 異方性のデータ ( s‐からp‐への、及び、p‐からs‐への転換量 )

  • ミューラー行列

  • スキャッタメトリー

  • 位相遅延

   

VASE®

193nmから2200nmまでの波長範囲で測定可能な研究に最適なエリプソメーターです。VUV-VASE®でリストされた全ての測定は、VASE®で可能です。
   

M-2000®

広い波長範囲で非常に速くデータがとれます。M-2000Dモデルは、193nmから1000nmまで測定できます。厚いフォトレジスト ( 厚さ最高10ミクロン ) から厚さを取得するための十分な波長です。均一性の面内分布測定に最適です。  
   

IR-VASE®

赤外域のエリプソメトリーです。  

  • 正確な赤外域での光学定数(世界中で最も精度の良い赤外域エリプソメーター)

  • 有機、無機物の薄膜への分子の結合吸収の研究

 

 

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