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弊社は、リソグラフィーの薄膜解析において世界のリーダー的存在です。以下は例です。
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レジスト
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マスク
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ステッパーの光学部品 ( コーティング )
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底面、及び、表面の反射防止膜
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ペリクル
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液浸用溶液の測定
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VUV-VASETM

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最も強力な研究用多入射角分光エリプソメーターです。146nmから1700nmまで正確に光学定数を測定できます。全てのリソグラフィーライン (
157nm、193nm、248nm、... ) においてノイズに強くなっています。
測定能力:
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VASE®
| 193nmから2200nmまでの波長範囲で測定可能な研究に最適なエリプソメーターです。VUV-VASE®でリストされた全ての測定は、VASE®で可能です。 |
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M-2000®
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広い波長範囲で非常に速くデータがとれます。M-2000Dモデルは、193nmから1000nmまで測定できます。厚いフォトレジスト ( 厚さ最高10ミクロン
) から厚さを取得するための十分な波長です。均一性の面内分布測定に最適です。 |
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IR-VASE®
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赤外域のエリプソメトリーです。
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