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光学コーティング分野の論文

光学定数や膜厚は、光学コーティングでは重要なパラメーターです。このため、分光エリプソメーターは、反射防止膜、全反射膜にまた、多層膜フィルターに利用されてきました。更に分光エリプソメトリーは、薄膜やバルクの複屈折効果を測定できます。以下は、これらの応用に関する論文です。
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Optical Coating Applications

How to Measure Birefringence with Ellipsometry

Authors: J. Hilfiker

R&D Magazine, 44 (2002) 19.

Spectroscopic Ellipsometry in Optical Coatings Manufacturing

Authors: J. N. Hilfiker, J. S. Hale, B. D. Johs, T. E. Tiwald, R. A. Synowicki, C. L. Bungay, and J. A. Woollam

SVC 44th Annual Tech. Conf. Proc. (2001) 295-300.

Spectroscopic Ellipsometry, Its Uses for Multilayer Thin Film Characterization

Author:  C. Bungay, J. Hilfiker, M. Liphardt, and R. Synowicki

Vacuum and ThinFilm, October 1999.

Long-wavelength cutoff filters of a new type

Authors: J. A. Dobrowolski, L. Li, and J. N. Hilfiker

Appl. Opt., 38 (1999) 4891-4903.

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Further optical coating applications are discussed in the following sources:

B. von Blanckenhagen, D. Tonova, and J. Ullman, "Application of the Tauc-Lorentz formulation to the interband absorption of optical coating materials", Appl. Opt., 41 (2002) 3137-3141.
 

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