異方性に関する論文

Home 製品紹介新着案内セールス\サポート測定サービス技術資料会社案内問合せ

製品紹介

異方性に関する論文

分光エリプソメトリーは、伸縮されたプラスチックや、方位を持った結晶、液晶フィルムなど、異方性の物質の測定に利用されています。以下は、異方性測定に関する内容です。

資料をご希望の方は、下記にお名前、会社又は所属機関、電話番号、ファックス番号、住所、電子メールアドレスをご記入のうえ、お問い合わせ下さい。追って資料を送付させて頂きます。

WEB フォーム:

出版論文請求

お名前 *
フリガナ *
肩書き
会社名／所属機関名 *
ご所属
郵便番号 *
都道府県 *
市区町村番地 *
建物名称
電話番号 *
Fax
Email *

*送信ボタンは、ページ下にございます*

Anisotropic Ellipsometry

	Ellipsometry on Anisotropic Materials: Bragg Conditions and Phonons in Dielectric Helical Thin Films Authors: M. Schubert and C. M. Herzinger Phys. Stat. Sol. (a), 188 (2001) 1563-1575.

	Infrared dielectric anisotropy and phonon modes of sapphire Authors: M. Schubert, T. E. Tiwald, and C. M. Herzinger Phys. Rev. B, 61 (2000) 8187-8201.

	Characterization of Biaxially-Stretched Plastic Films by Generalized Ellipsometry Author: J. F. Elman, J. Greener, C. M. Herzinger, and B. Johs Thin Solid Films, 313-314 (1998) 814-818.

	Extension of rotating-analyzer ellipsometry to generalized ellipsometry: determination of the dielectric function tensor from uniaxial TiO2 Authors: M. Schubert, B. Rheinlander, J. A. Woollam, B. Johs, and C. M. Herzinger J. Opt. Soc. Am. A, 13 (1996) 875-883.

	Generalized transmission ellipsometry for twisted biaxial dielectric media: application to chiral liquid crystals Authors: M. Schubert, B. Rheinlander, C. Cramer, H. Schmiedel, J. A. Woollam, C. M. Herzinger and B. Johs J. Opt. Soc. Am. A, 13 (1996) 1930-1940.

ジェー・エー・ウーラム社を何でお知りになりましたか?

ジェー・エー・ウーラム社の製品を使っている
ご紹介	ご紹介者
雑誌広告	雑誌名
サーチエンジン	キーワードは？
他のサイトのリンクから	サイト名
展示会	展示会の名称
その他	具体的にお書き下さい。

プレビューを表示
送信者にコピーを送る

Further anisotropic ellipsometry sources include:

M. Schubert, "Generalized ellipsometry and complex optical systems", Thin Solid Films, 313-314 (1998) 323-332.

M. Schubert, "Polarization-dependent optical parameters of arbitrarily anisotropic homogenous layered systems", Phys. Rev. B, 53 (1996) 4265-4274.

C. Benecke, H. Seiberle, and M. Schadt, "Determination of Director Distributions in Liquid Crystal Polymer-Films by Means of Generalized Anisotropic Ellipsometry", Jpn. J. Appl. Phys., 39 (2000) 525-531.

異方性のエリプソメトリー測定に関する資料は赤外域エリプソメトリーや物質解析にも紹介されていますので、ご参照下さい。

ジェー・エー・ウーラム・ジャパン株式会社
東京都杉並区荻窪5-22-9藤ビル2F
Telephone (03) 3220-5871
FAX(03) 3220-5876
E-mail: info@jawjapan.com