ジェー・エー・ウーラム・ジャパン株式会社

高度情報化社会を支える先端技術、そのほとんど全ての分野において「薄膜を解析・制御すること」の重要性は高まっています。多様な薄膜材料の解析、特に多層構造を含むデバイスの非破壊評価のニーズに答えられる強力な解析ツールが、分光エリプソメーターです。J. A. ウーラム社は、米国ネブラスカ大学教授ジョンA.ウーラム博士によって1987年に設立された分光エリプソメーターの専門メーカーです。
J. A. ウーラム社が提供する高性能な分光エリプソメーター・ハードウエア、洗練された解析ソフトウエア、豊富な解析ノウハウは、世界中の研究／産業界で高い評価を得ています。 J. A. ウーラム社の日本法人である私たちジェー・エー・ウーラム・ジャパン（株）は、分光エリプソメトリー技術を通して、様々な分野における薄膜材料の研究／開発を支援しています。

会社概要

米国本社紹介

会社名
	ジェー・エー・ウーラム・ジャパン株式会社
	所在地
	〒167-0051 東京都杉並区荻窪５丁目２２番９号　藤ビル２階 TEL. 03-3220-5871 FAX. 03-3220-5876	地図
	設立
	平成7年（1995年）1月17日米国ネブラスカ州所在 J. A. ウーラム社の日本事務所として設立される。
	事業内容
	主にエリプソメトリー(偏光解析)技術に関する次の業務光学測定機器の輸入販売及び製造業務光学測定データの解析ソフトウェア輸入販売及び開発業務光学測定サービス上記技術のコンサルティング
	その他
	応用物理学会　賛助会員

会社経歴
1987年 7月	米国ネブラスカ州に J.A. ウーラム社. 設立。
1988年 3月	多入射角分光エリプソメーター（VASE^TM）を米国内で販売開始。
1992年 3月	レオニクス株式会社を通じて日本国内で多入射角分光エリプソメーター(VASE^TM）の販売開始
1993年11月	44波長エリプソメーター（M-44^TM）の販売開始。
1985年 1月	日本法人ジェー・エー・ウーラム・ジャパン株式会社を設立。
1996年 1月	88波長エリプソメーター（M-88^TM）の販売開始。
1998年 1月	赤外域多入射角分光エリプソメーター（IR-VASE^R）販売開始。
2000年 1月	高速分光エリプソメーター（M-2000^R）の販売開始。
2000年 4月	真空紫外域多入射角分光エリプソメーター（VUV-VASE^R）販売開始。
2002年 7月	日本国内装置納入台数100台突破。
2005年 4月	簡易高速分光エリプソメーター（alpha-SE）販売開始

米国本社紹介

ネブラスカ大学
マイクロエレクトロニクス･オプティカルマテリアル研究所所長
理学博士ジョン A.ウーラム

ウーラム博士は、研究所長の職も兼ねて、大学院､学部生両方のコースで教授しています。ウーラム博士は物理学と電気工学の有名な教授で、学生に研究の学術的な背景と実験室での実際の経験を統合した教授を行っています。

ウーラム博士は、1967年にミシガン州立大学で物理学の博士号を取得しました。また､1978年にケース･ウェスタンリザーブ大学で電気工学の修士号を収得しました。ウーラム博士は、 NASA(米国航空宇宙局)のルイス研究所で13年間勤務した後、1979年にネブラスカ州リンカーン市にあるこの大学に赴任しました。

ウーラム博士は、米国物理学会の特別会員で、電気・電子技術者協会の上級会員でもあり、その他にもいくつかの米国の専門組織の委員でもあります。
彼は現在米国真空学会の薄膜部門の議長をしており、国際的な技術雑誌である｢Applied Physics Communications｣の共編者でもあります。

ジェー・エー・ウーラム・ジャパン株式会社
東京都杉並区荻窪5-22-9藤ビル2F
Telephone (03) 3220-5871
FAX(03) 3220-5876
E-mail: info@jawjapan.com