M-2000^®の回転補償子の設計により複雑な試料に対する高度なデータを得ることが出来ます。異方性やミューラー行列の測定はサファイアや引き伸ばしたフイルムのような異方性物質の解析に必要とされます。偏光解消の測定では、不均一な膜厚、パターンのある層、コヒーレントでない裏面反射などの偏光解消効果を定量化することが出来ます。これらの高度な測定はM-2000^®を広範囲な応用分野で使用できる優れた測定装置にしました。

J.A. Woollam Home | 製品紹介 | 新着案内 | セールス&サポート
測定サービス | 技術資料 | サイトマップ | 会社案内 | お問い合せ