ジェー・エー・ウーラム・ジャパン

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J. A. Woollam社は非接触・非破壊で薄膜やバルクを測定・解析する、分光エリプソメーターの専門メーカーです

　分光エリプソメトリーは現在、薄膜の膜厚や光学定数を求める一般的な手法となっています。
　誘電体・半導体・金属・有機膜など、さまざまな物質解析に用いられています。
　私たちは真空紫外 (VUV)から赤外 (IR) までのあらゆる測定波長にあったエリプソメーターを
　ご提供いたします。
　また、自動サンプルステージ・温度可変 (昇温や冷却)・集光光学系・溶液セルなど、さまざま
　なオプションをご用意しております。

新着情報

2011/11/28　展示会情報を更新しました。
　今後の出展予定
　 2011.12.5(月) - 7(水)　PV Japan 2011
　 2011.12.7(水) - 9(金)　セミコン・ジャパン2011
　 2012.2.15(水) - 17(金)　nano tech 2012
詳細は　こちら　をご覧ください。

2010/12/22　出版論文を追加しました。
詳細は　こちら　をご覧ください。

2010/10/25　alpha-SE(簡易高速分光エリプソメーター)で複数入射角測定が可能になりました。
詳細は　こちら　をご覧ください。

2010/5/11　ホームページをリニューアルしました。

2009/2/1　新製品、太陽電池向分光エリプソメーター（T-Solar）販売開始しました。
詳細は　こちら　をご覧ください。

製品紹介

私たちはさまざまなアプリケーション測定に対応する
ため、６種類の分光エリプソメーターを揃えております。
お客様のニーズにあった製品をご提供いたします。

エリプソメトリーとは？
エリプソメトリー講座では、エリプソメトリー概論やその
応用技術など、基礎から応用まで、興味深い内容を
わかり易く解説します。